歡迎來到北京冠遠科技有限公司！
服務熱線：010-64834378
歡迎來到北京冠遠科技有限公司！
服務熱線：010-64834378
產品分類
Cassification
更新時間：2021-10-13 
瀏覽次數：2468【冠遠科技】DiaInspect-OSM粒子分析儀適用于微米到鋸片粒度的各種粒度和金剛石。
粒子分析儀特點：
1、有參數直方圖和參數組合散點圖；
2、所有參數組合示意圖；
3、2D和3D虛擬排序；
4、多聚焦功能的深聚焦圖像；
5、孔隙度掃描模塊；
6、曲面和3D三維掃描模式；
7、報告生成一鍵生成；
8、數據傳輸EXCEL結果表；
9、真實粒子、圖像和被測參數交互連接；
工作原理：
DiaInspect-OSM粒子分析儀把顆粒分散到玻璃板上。當檢查粒徑為幾微米的顆粒時，建議濕敷粉末。玻璃板通過XY臺在掃描運動中移動。陣列大小將根據實際放大級別自動選擇。圖像采集部分從玻璃板的每個部分獲取并分析連續圖像，因此可以以高圖像分辨率檢測大量單個粒子。
P
PRODUCTSN
NEWSA
ABOUT USC
CODE
聯系電話：13691365936
聯系郵箱：guanyuan699@163.com
公司地址：北京市石景山區實興大街30號院3號樓2層A-0299房間
Copyright © 2026 北京冠遠科技有限公司版權所有 備案號：京ICP備12049026號-5 技術支持：化工儀器網
您的位置：